專利名稱
紅外線回焊溫度偵測系統
專利證號
I820872
專利國別
中華民國
發明人代表
盧威華
專利技術摘要
一種紅外線回焊溫度偵測系統包含一紅外線回焊裝置、一溫度感測單元、一環境溫度感測單元及一回焊溫度計算單元,該紅外線回焊裝置對一半導體裝置進行回焊,該溫度感測單元用以感測一晶片之上表面的溫度並輸出一溫度感測訊號,該環境溫度感測單元用以感測該紅外線回焊裝置所處環境的溫度並輸出一環境溫度感測訊號,該回焊溫度計算單元接收該溫度感測訊號及該環境溫度感測訊號,且該回焊溫度計算單元藉由該溫度感測訊號及該環境溫度感測訊號計算該晶片之下表面一回焊溫度。
可應用範圍
(產業利用性)
本案之紅外線回焊溫度偵測系統是以溫度感測單元感測晶片上表面之溫度並以環境溫度感測單元感測環境溫度,而可透過回焊溫度計算單元以晶片上表面之溫度及環境溫度計算晶片下表面對於連接件的回焊溫度,可確實掌握該些連接件的加熱情況。本技術可運用於高階晶片組裝技術,具有產業應用性。