專利名稱
利用二極體之逆向偏壓I-V特性曲線取得其參數之方法
專利證號
I415203
專利國別
中華民國
發明人代表
熊京民
專利技術摘要
本發明之利用二極體之逆向偏壓I-V特性曲線取得其參數之方法為:建立一模型函數;量測二極體之逆向偏壓I-V特性曲線;及利用一方程式取得一dF(I)/dI-I特性曲線;其中於該dF(I)/dI-I特性曲線與部分量測二極體之逆向偏壓I-V特性曲線係藉由調整一可調變數r與一理想因子n達到近似,此外,當I=0時,可得一能障值 ,而一電阻值R可藉由該dF(I)/dI-I特性曲線中之dF(I)/dI斜率取得。