國立屏東科技大學
可移轉專利技術摘要

一種探針結構，用以對一待測物進行溫度及壓力量測，該探針結構包含一載體、一壓力量測模組及一溫度量測模組，該壓力量測模組活動地結合於該載體，該溫度量測模組活動地結合於壓力量測模組，該溫度量測模組用以接觸該待測物，以量測該待測物的溫度，當該壓力量測模組接觸該待測物時，該壓力量測模組用以量測該探針結構是否過度觸壓該待測物。