國立屏東科技大學
可移轉專利技術摘要

一種回焊溫度偵測系統用以偵測一半導體裝置的回焊溫度，一紅外線回焊裝置用以朝向該半導體裝置之一頂面發出一紅外線至使其升溫，其中該半導體裝置之該頂面為亮面，一高分子薄膜設置於該半導體裝置之該頂面上，其中該高分子薄膜的顏色為深色，一熱影像偵測裝置用以偵測該高分子薄膜之一薄膜溫度而輸出一熱影像訊號，一運算裝置電性連接該熱影像偵測裝置以接收該熱影像訊號，且該運算裝置根據該熱影像訊號計算該半導體裝置之一回焊溫度。