專利名稱
利用二極體之順向偏壓I-V特性曲線取得其參數之方法
專利證號
I394965
專利國別
中華民國
發明人代表
熊京民
專利技術摘要
本發明第一較佳實施例之利用二極體之順向偏壓I-V特性曲線取得其參數之方法包含:量測二極體之順向偏壓I-V特性曲線;利用 模型函數獲得 模型函
數,以提供F(I)-I圖,以便由該F(I)-I圖取得二極體參數之 、R、n;其中r為可調變數,且將r調整至等於n,即n=r,並獲得 方程式;當I=0時,取得 ;R由F(I)之斜率〔R/n〕
取得。本發明第二較佳實施例之方法包含:建立 模
型函數;在建立 模型函數時,進一步獲得 模型函數,以提供F(I)-I圖;將r調整至
等於二極體參數之n,以取得 方程式;其中n等於r;
當I=0時,取得 ;R由F(I)之斜率〔R/n〕取得。